材料膜厚儀-深圳華普通用科技有限公司

<center id="00ag0"><center id="00ag0"></center></center>

<nav id="00ag0"><strong id="00ag0"></strong></nav>

<xmp id="00ag0">

日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

使用顯微光譜法在微小區域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度光學常數分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。測量時間
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

光譜儀（MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700）提供豐富選配套件以及客制化光纖，可依據安裝現場需求評估設計，是一套可靈活架設于各種環境下的最佳即時測量系統

成在线人AV免费无码高潮喷水

<center id="00ag0"><center id="00ag0"></center></center>

<nav id="00ag0"><strong id="00ag0"></strong></nav>

<xmp id="00ag0">