火花直讀光譜儀
能量色散X射線熒光光譜儀
電感耦合等離子體發射光譜儀
波長色散X射線熒光光譜儀
掃描電鏡與三坐標測量儀
絕緣電阻測試系統
輝光放電發射光譜儀
材料膜厚儀
紅外測溫儀
半導體參數分析儀
制備色譜系統
差式熱量掃描儀
熱重分析儀
冰點，傾點，凝點，濁點
物理材料實驗室配套設備
標準樣品
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功率器件動態參數測試系統DT10-華普通用
專業測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態時間參數特性，測試范圍可達3500V 4000A -
Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀-華普通用
使用 4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能領先電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓 -
TSI POWERSIGHT固體激光器的激光多普勒測速儀LDV-華普通用
TSI的一維、二維或三維（1D,2D或3D）激光多普勒測速（LDV）系統，包含 新型的PowerSight固態激光器，絕對讓您耳目一新。該款全新增強型系統整合了PowerSight模塊，該模組由最新型固態激光器 -
日本Otsuka界達電位ELSZ-2000
此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑測量范圍（0 6nm～10μm），濃度范圍（0 00001%～40%）。實測電氣滲透流 -
日本Otsuka量子效率測量系統QE-2000/2100
瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）。適用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域的迷光。